O esquema de teste de degradação acelerada por múltiplos estresses (ADT) tem recebido ampla atenção nos últimos anos devido aos seus parâmetros de aceleração eficazes e alta conformidade com a prática de engenharia. Sob esse esquema, produtos de engenharia reais geralmente precisam percorrer múltiplos perfis de tarefas, suportando a ação alternada de múltiplos estresses. No entanto, a maioria das pesquisas ignorou essa característica, assumindo a aplicação simultânea de múltiplos estresses, o que faz com que os esquemas de teste correspondentes não possam refletir verdadeiramente o desempenho real da degradação do produto. Para superar essa limitação, este estudo visa otimizar o projeto do esquema de teste de degradação acelerada por combinação cíclica de estresse (CCSADT). Especificamente, primeiro foi proposto um modelo CCS ADM baseado na teoria do dano acumulado, capaz de capturar efetivamente o processo de degradação do produto sob a ação alternada de múltiplos estresses. Em seguida, com base no critério D-ótimo, foi construído um objetivo de otimização do CCSADT considerando a minimização da variância da estimativa dos parâmetros do modelo. Sob as restrições de tempo e custo do teste, foi adicionalmente estabelecido um modelo de projeto otimizado para obter a configuração ideal do número de ciclos, níveis de estresse e alocação de tempo dentro de cada ciclo. Por fim, por meio de um exemplo numérico de um conector elétrico, verificou-se a superioridade do método proposto em comparação com os métodos existentes.

teste de degradação acelerada;combinação cíclica de estresse;teoria do dano acumulado;critério D-ótimo