Em sistemas de instrumentação de segurança redundantes (SIS), os testes de verificação escalonados são mais eficazes que os testes simultâneos na redução da indisponibilidade do sistema ou da probabilidade média de falha por demanda (PFD). Este artigo propõe um método para calcular a PFD de SIS com estrutura k-de-n e analisa as fórmulas da PFD para esquemas de teste simultâneos e escalonados uniformes em testes periódicos. Para unidades redundantes com taxas de falha iguais e diferentes, discute-se a optimalidade do esquema de teste escalonado uniforme em SIS com estrutura k-de-n. Além disso, estuda-se o esquema de teste escalonado para estruturas k-de-n baseado no modelo de falhas comuns (CCF) adotado pela IEC 61508, comparando-se por meio de exemplos numéricos.

sistema de instrumentação de segurança;testes de verificação escalonados;probabilidade de falha por demanda;k-de-n estrutura