Alta confiabilidade e longa vida útil tornaram-se objetivos de desenvolvimento e necessidades urgentes na pesquisa e desenvolvimento de equipamentos, especialmente equipamentos importantes e grandes projetos que apresentam novos desafios para as tecnologias tradicionais de confiabilidade. Como um meio eficaz de suportar alta confiabilidade e longa vida útil dos equipamentos, a tecnologia de Teste Acelerado (Accelerated Testing, AT) tornou-se um foco de pesquisa. Este artigo, com base na análise das demandas de aplicação do AT, propõe um sistema de tecnologia AT e revisa e analisa o estado atual das pesquisas sobre métodos de modelagem e análise de testes acelerados sob quatro aspectos: modelagem e análise de Teste de Vida Acelerado (Accelerated Life Test, ALT) para modo único de falha; modelagem e análise de Teste de Degradação Acelerado (Accelerated Degradation Test, ADT) para modo único de falha; modelagem e análise ALT para múltiplos modos de falha; modelagem e análise ADT para múltiplos modos de falha. Por fim, são apresentadas perspectivas futuras para a pesquisa em tecnologias de modelagem e análise AT.

teste acelerado;modelagem e análise;teste de vida acelerado;teste de degradação acelerado;confiabilidade