가속 시험 모델링 및 데이터 분석 방법 개관

Yashun Wang ,  

Xun Chen ,  

Shufeng Zhang ,  

Zhengwei Fan ,  

Jingwen Hu ,  

Chen Yang ,  

摘要

높은 신뢰성과 긴 수명은 장비 개발의 발전 목표이자 긴급한 요구 사항이 되었으며, 특히 중요한 장비와 대형 공정은 기존 신뢰성 기술에 새로운 도전을 제기하고 있습니다. 장비의 고신뢰성 및 장수명을 지원하는 효과적인 수단으로서 가속 시험(Accelerated Testing, AT) 기술이 연구의 핫이슈가 되고 있습니다. 본 논문은 AT 적용 요구 분석을 바탕으로 AT 기술 체계를 제안하고 가속 시험 모델링 및 분석 방법의 연구 현황을 다음 네 가지 측면에서 평가 및 분석합니다: 단일 고장 모드 가속 수명 시험(Accelerated Life Test, ALT) 모델링 및 분석; 단일 고장 모드 가속 열화 시험(Accelerated Degradation Test, ADT) 모델링 및 분석; 다중 고장 모드 ALT 모델링 및 분석; 다중 고장 모드 ADT 모델링 및 분석. 마지막으로 AT 모델링 및 분석 기술의 미래 연구 방향을 전망합니다.

关键词

가속 시험;모델링 분석;가속 수명 시험;가속 열화 시험;신뢰성

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