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加速試験モデリングおよびデータ解析手法の総説
Yashun Wang
,
Xun Chen
,
Shufeng Zhang
,
Zhengwei Fan
,
Jingwen Hu
,
Chen Yang
,
DOI:
10.1088/3050-2454/adb84e
摘要
高信頼性と長寿命は装備の研究開発における発展目標かつ喫緊の課題となっており、特に重要な装備や大規模プロジェクトは従来の信頼性技術に新たな挑戦をもたらしています。装備の高信頼性と長寿命を支える有効な手段として、加速試験(Accelerated Testing、AT)技術が研究のホットスポットとなっています。本稿はATの適用ニーズを分析し、AT技術体系を提案するとともに、加速試験のモデリングおよび解析手法の研究現状を以下の4つの側面から評価分析します:単一故障モードの加速寿命試験(Accelerated Life Test、ALT)のモデリングと解析;単一故障モードの加速劣化試験(Accelerated Degradation Test、ADT)のモデリングと解析;多故障モードのALTモデリングと解析;多故障モードのADTモデリングと解析。最後に、ATのモデリングおよび解析技術の今後の研究方向を展望します。
关键词
加速試験;モデリング解析;加速寿命試験;加速劣化試験;信頼性
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