有望为高性能光电子集成芯片提供新思路

Qiang Liu1; Wei Xu1; Xiaoxi Li3; Tongyao Zhang3; 4; Chengbing Qin4; 5; Fang Luo1; Zhihong Zhu1; Shiqiao Qin1; Mengjian Zhu1; 2; Kostya S Novoselov6; 7

doi:10.1088/2631-7990/acfbc2

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有望为高性能光电子集成芯片提供新思路

更新时间：2024-08-30

- 有望为高性能光电子集成芯片提供新思路
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- 可靠性科学与工程学报 2024年6卷第1期
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- DOI：10.1088/2631-7990/acfbc2
  中图分类号：
- 纸质出版日期：2024，
  
  网络出版日期：2024-03-14，
- 稿件说明：
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Qiang Liu1, Wei Xu1, Xiaoxi Li3, 等. 有望为高性能光电子集成芯片提供新思路[J]. 可靠性科学与工程学报, 2024,6(1).

有望为高性能光电子集成芯片提供新思路. [J]. Journal of reliability science & engineering, 2024, 6(1).
Qiang Liu1, Wei Xu1, Xiaoxi Li3, 等. 有望为高性能光电子集成芯片提供新思路[J]. 可靠性科学与工程学报, 2024,6(1). DOI： 10.1088/2631-7990/acfbc2.

有望为高性能光电子集成芯片提供新思路. [J]. Journal of reliability science & engineering, 2024, 6(1). DOI： 10.1088/2631-7990/acfbc2.

摘要

随着大数据和人工智能时代的来临，采用传统的集成电路处理巨量的数据已经越发捉襟见肘。半导体晶体管的发展正在逼近其物理极限，光电子集成芯片技术被公认为后摩尔时代最有潜力的信息技术发展路线之一。其中，微纳尺度的高性能电致发光器件是光电子集成芯片发展和应用的一个关键核心部件。研制具有电驱动、高速直接调制、易于片上集成等优异特性的微纳光源一直以来都是光电信息技术领域的重要前沿。

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DOI：10.1088/2631-7990/acfbc2

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